3月28日,中關村集成電路設計園(以下簡稱“IC PARK”)公共測試服務平臺芯片測試聯合實驗室暨北京季峰開業儀式舉行。京內外集成電路相關企業、合作機構代表等共100余人出席開業儀式。

儀式上,北京市科委、中關村科技園區管委會副主任張宇蕾表示,近年來北京市不斷推進科技創新和產業創新深度融合,培育和壯大新質生產力,加快塑造高質量發展新動能新優勢,在推動國際科技創新中心和世界領先科技園區建設等方面取得顯著成效。此次公共測試服務平臺芯片測試聯合實驗室的成立,是落實國家創新驅動發展戰略、培育北京新質生產力、推動集成電路產業高質量發展的有力舉措。北京市科委、中關村管委會將持續加大專業共性技術平臺支持力度,推動北京集成電路產業向更高層次邁進。

中關村科學城管委會專職副主任何建吾表示,IC PARK與北京季峰聯合建立的公共測試服務平臺芯片測試聯合實驗室,有效提升了海淀區以及北京市在芯片失效分析測試領域的專業化服務能力,對破解芯片檢驗測試共性技術難題,促進海淀以及北京集成電路產業發展具有重要意義。他表示,海淀區2024年初發布了支持高質量發展首批5項政策,從平臺服務、人才、資金等多維度助力企業發展,下一步還將通過“揭榜掛帥”等形式支持企業不斷加大研發投入,培育更多龍頭企業和潛力企業。

IC PARK共性技術服務中心被列為北京市建設世界領先高品質園區重點支持的公共測試服務平臺。IC PARK董事長儲鑫表示,此次開業的公共測試服務平臺芯片測試聯合實驗室是IC PARK共性技術服務中心由線上向線下布局的重要里程碑工程。聯合實驗室擁有研磨機、激光開封機、X-ray、DB、FIB、離子減薄機等相關設備,具備ESD、失效分析等測試能力。目前,園區內線下專業第三方實驗室已經達到1100平方米,芯片檢驗檢測認證、模板模組檢驗檢測認證等方面的服務能力處于北京乃至中國北方地區領先地位,可為園內外企業提供更加全面、專業、精準、便捷以及安全的檢驗檢測服務。

隨著實驗室業務的逐步推進,IC PARK共性技術服務中心正在由專注于芯片、模組檢驗檢測認證等業務,向包括儀器儀表、先進封裝、設備耗材等多領域延伸,服務模式也由線上為主轉變為線上線下并重的模式。IC PARK將持續整合服務創新資源,為企業提供“空間+投資+服務”的系統化集成服務,為北京芯片產業創新發展提供有力支撐。

季豐電子董事長鄭朝暉介紹,北京芯片檢測聯合實驗室配備了國內領先的測試設備,經驗豐富的測試工程師和管理團隊,能夠為客戶提供精準、高效的測試服務。下一步,結合京內外集成電路企業測試需求,將與IC PARK加強合作,布局更多測試服務能力。

當日,IC PARK公共測試服務平臺芯片測試聯合實驗室、季豐電子研討會北京站同期舉行,會議圍繞車規級芯片ESD測試、車規產品對可靠性實驗和量產測試的要求、芯片測試硬件技術以及創新的芯片可靠性測試方案等熱點問題展開了深入研討和交流。